Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Hot-carrier effects in MOS dev...
Τεκμήρια
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Hot-carrier effects in MOS devices /
Κύριος συγγραφέας:
Takeda, Eiji
Άλλοι συγγραφείς:
Yang, Cary Y.
,
Miura-Hamada, Akemi
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
San Diego:
Academic Press,
c1995
Θέματα:
Metal oxide semiconductors
Hot carriers
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Ionizing radiation effects in mos devices and circuits /
Έκδοση: (1989)
Ionizing radiation effects in mos oxides /
ανά: Oldham, Timothy R.
Έκδοση: (1999)
Modern MOS technology : processes, devices, and design /
ανά: Ong, DeWitt G.
Έκδοση: (1984)
Operation and modeling of the MOS transistor /
ανά: Τσιβίδης, Ιωάννης Π
Έκδοση: (1988)
MOS (Metal Oxide Semiconductor) physics and technology . /
ανά: Nicollian, E. H.
Έκδοση: (2003)
×
Φορτώνει......