Hot-carrier effects in MOS devices /

Κύριος συγγραφέας: Takeda, Eiji
Άλλοι συγγραφείς: Yang, Cary Y., Miura-Hamada, Akemi
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: San Diego: Academic Press, c1995
Θέματα: