Ionizing radiation effects in mos oxides /

Κύριος συγγραφέας: Oldham, Timothy R.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Singapore: World Scientific, c1999
Σειρά:International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology (ASSET)
Θέματα: