Characterization and manipulation of Bi2Te3 topological insulator surfaces by scanning probe microscopy.
Η παρούσα εργασία παρουσιάζει τα αποτελέσματα από τον χαρακτηρισμό και χειρισμό των επιφανείων του τοπολογικού μονωτή (ΤΙ) τελλουριούχου βισμουθίου (Bi2Te3) με τη χρήση μικροσκοπίας σάρωσης με ακίδα (SPM). Η έρευνα αυτή διεξήχθει στο Εργαστήριο Φυσικής Στερεάς Κατάστασης και Μαγνητισμού, στο Τμήμα Φ...
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | masterThesis |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Χημικών Μηχανικών
2016
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dspace.lib.ntua.gr/handle/123456789/43249 |