Νέτσου, Α., & Κορδάτος, Κ. (2016). Characterization and manipulation of Bi2Te3 topological insulator surfaces by scanning probe microscopy. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Χημικών Μηχανικών.
Παραπομπή Chicago StyleΝέτσου, Αστεριώνα-Μαρία, and Κωνσταντίνος Κορδάτος. Characterization and Manipulation of Bi2Te3 Topological Insulator Surfaces By Scanning Probe Microscopy. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Χημικών Μηχανικών, 2016.
Παραπομπή MLAΝέτσου, Αστεριώνα-Μαρία, and Κωνσταντίνος Κορδάτος. Characterization and Manipulation of Bi2Te3 Topological Insulator Surfaces By Scanning Probe Microscopy. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Χημικών Μηχανικών, 2016.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.