Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός και προσομοίωση μνημών εναλλαγής
Στην παρούσα εργασία μελετήθηκαν δομές εναλλαγής μνήμης: TiN/Ti/TiO2/Au/SiO2/p-Si με και χωρίς νανοσωματίδια πλατίνας στο ενεργό οξείδιο, με τη διάμετρο ή την πυκνότητά αυτών να διαφέρει. Το δείγμα αναφοράς είναι αυτό χωρίς καθόλου νανοσωματίδια κατά τη μελέτη, ενώ για τα υπόλοιπα δείγματα ισχύει πω...
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | masterThesis |
| Γλώσσα: | Greek |
| Έκδοση: |
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών
27-0
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dspace.lib.ntua.gr/handle/123456789/41509 |