Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon /

Κύριος συγγραφέας: Pichler, P.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Wien: Springer, c2004
Σειρά:Computational microelectronics
Θέματα: