Μετάβαση στο περιεχόμενο
  • Γλώσσα
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
Σύνθετη
  • Electron microscopy and analys...
  • Τεκμήρια
  • Εμφάνιση παραπομπής
  • Αποστολή με SMS
  • Αποστολή με email
  • Αποθήκευση
    • Αποθήκευση σε RefWorks
    • Αποθήκευση σε EndNoteWeb
    • Αποθήκευση σε EndNote
Εξώφυλλο

Electron microscopy and analysis /

Κύριος συγγραφέας: Goodhew, Peter J.
Άλλοι συγγραφείς: Humphreys, John, Beanland, Richard
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: London : Taylor and Francis, 2001
Έκδοση:3rd ed.
Θέματα:
Electron microscopy
  • Τεκμήρια
  • Περιγραφή
  • Παρόμοια τεκμήρια
  • Λεπτομερής προβολή

Παρόμοια τεκμήρια

  • Introduction to scanning transmission electron microscopy/
    ανά: Keyse, Robert J.
    Έκδοση: (1998)
  • New developments in electron microscopy /
    Έκδοση: (1971)
  • Electron microscopy in material science /
    Έκδοση: (1971)
  • Transmission electron microscopy : : physics of image formation and microanalysis /
    ανά: Reimer, Ludwig
    Έκδοση: (1997)
  • Scanning electron microscopy : systems and applications 1973 : proceedings of a conference organized by the Electron Microscopy and Analysis Group of The institute of Physics, Univeristy of Newcastle upon Tyne 3-5 July 1973.
    Έκδοση: (1973)

Επιλογές αναζήτησης

  • Ιστορικό αναζητήσεων
  • Σύνθετη αναζήτηση

Βρείτε περισσότερα

  • Περιήγηση στον κατάλογο
  • Περιήγηση αλφαβητικά

Χρειάζεστε βοήθεια;

  • Συμβουλές αναζήτησης
  • Ερώτηση σε βιβλιοθηκονόμο
Φορτώνει......
Cannot write session to /tmp/vufind_sessions/sess_mnk4n4teolgtao9661bro83kp5