Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Electron microscopy and analys...
Λεπτομερής προβολή
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Electron microscopy and analysis /
Κύριος συγγραφέας:
Goodhew, Peter J.
Άλλοι συγγραφείς:
Humphreys, John
,
Beanland, Richard
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
London :
Taylor and Francis,
2001
Έκδοση:
3rd ed.
Θέματα:
Electron microscopy
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Introduction to scanning transmission electron microscopy/
ανά: Keyse, Robert J.
Έκδοση: (1998)
New developments in electron microscopy /
Έκδοση: (1971)
Electron microscopy in material science /
Έκδοση: (1971)
Transmission electron microscopy : : physics of image formation and microanalysis /
ανά: Reimer, Ludwig
Έκδοση: (1997)
Scanning electron microscopy : systems and applications 1973 : proceedings of a conference organized by the Electron Microscopy and Analysis Group of The institute of Physics, Univeristy of Newcastle upon Tyne 3-5 July 1973.
Έκδοση: (1973)
×
Φορτώνει......