Εξώφυλλο

Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο /

Κύριος συγγραφέας: Κατσουρίδης, Αθανάσιος
Συλλογικό Έργο: Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (Ελλάδα). Σχολή Μηχανολόγων Μηχανικών, Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (Ελλάδα). Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών. Τομέας Μηχανικής
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Greek

Παρόμοια τεκμήρια