Κατσουρίδης, Α. Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο.
Παραπομπή Chicago StyleΚατσουρίδης, Αθανάσιος. Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο.
Παραπομπή MLAΚατσουρίδης, Αθανάσιος. Επίδραση των χαρακτηριστικών βάθους (Gates) στην ποιότητα εέγχου με την C-Scan μη καταστροφική υπερηχητική μέθοδο.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.