Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Applications of X-ray topograp...
Περιγραφή
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Applications of X-ray topographic methods to materials science /
Άλλοι συγγραφείς:
Weissmann, Sigmund
,
Balibar, Francoise
,
Petroff, Jean - Francois
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
New York :
Plenum Press,
c1984
Θέματα:
Radiography, Industrial
>
Congresses
X-rays
>
Industrial applications
>
Congresses
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
X-ray tomography in material science /
Έκδοση: (2000)
Advances in x-ray analysis /
Έκδοση: (1990)
X-ray diffraction methods in polymer science /
ανά: Alexander, Leroy E., 1910-
Έκδοση: (1969)
X-ray characterization of materials /
Έκδοση: (1999)
Methods of x-ray spectroscopic research /
ανά: Blokhin, M. A.
Έκδοση: (1965)
×
Φορτώνει......