Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Advances in x-ray analysis /
Τεκμήρια
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Advances in x-ray analysis /
Άλλοι συγγραφείς:
Barrett, Charles S.
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
New York :
Plenum Press,
c1990
Θέματα:
X-rays
>
Industrial applications
>
Congresses
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Applications of X-ray topographic methods to materials science /
Έκδοση: (1984)
X-ray tomography in material science /
Έκδοση: (2000)
X-ray diffraction /
ανά: Warren, B.E.
Έκδοση: (1990)
X-ray analysis of organic structures /
ανά: Nyburg, S. C.
Έκδοση: (1961)
Elements of modern x-ray physics/
ανά: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Έκδοση: (2001)
×
Φορτώνει......