Παραμετρική ανάλυση μη καταστροφικού ελέγχου ολογραφικής συμβολομετρίας για αποκόλληση σε πολυστρωματικό υλικό με τη μέθοδο των πεπερασμένων στοιχείων
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | bachelorThesis |
| Έκδοση: |
N/A
1970
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/123456789/905 |