Κύριοι συγγραφείς:	Κοψαλής, Ιωάννης Χ., Kopsalis, Ioannis C.
Άλλοι συγγραφείς:	N/A
Μορφή:	bachelorThesis
Έκδοση:	N/A 1970
Θέματα:	Φασματοσκοπία Ράμαν Eμφύτευση ιόντων υψηλής ενέργειας Xαρακτηρισμός της κρυσταλλικότητας του πυριτίου Pλεγματική καταστροφή Mοντέλο εντοπισμού του φωνονίου Fασματοσκοπία οπισθοσκέδασης Rutherford Hλεκτρονική μικροσκοπία σάρωσης Tεχνικές ανάλυσης με δέσμη ιόντων Raman Spectroscopy High Energy Ion Implantation Silicon Amorphization Rutherford Backscattering Scanning Electron Microscope Phonon Confinement Model Nuclear Reaction Analysis
Διαθέσιμο Online:	http://hdl.handle.net/123456789/8592