Κύριοι συγγραφείς:	Σταμούλης, Δημήτριος Α., Stamoulis, Dimitrios A.
Άλλοι συγγραφείς:	N/A
Μορφή:	bachelorThesis
Έκδοση:	N/A 1970
Θέματα:	Αξιοπιστία ολοκληρωμένων κυκλωμάτων Προσομοιώσεις ολοκληρωμένων κυκλωμάτων Μοντέλο BSIM Προσομοιωτής SPICE MOSFET τρανζίστορς Berkeley Short-channel IGFET Model (BSIM) Bias Temperature Instability (ΒΤΙ) Gate Stack Defects Random Telegraph Noise (RTN) Reliability Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis (SPICE) Transient Circuit Simulations
Διαθέσιμο Online:	http://hdl.handle.net/123456789/8272