Modeling and Mitigation of Parametric Time-Dependent Variability in Digital Systems
Current and future semiconductor technology nodes, bring about a variety of challenges that pertain to the reliability and dependability of digital integrated systems. Compounds, such as high-κ materials in the transistor gate stack, tend to intensify the time-zero and time-dependent variability of...
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | doctoralThesis |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Εθνικό Μτεσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών
2016
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dspace.lib.ntua.gr/handle/123456789/46413 |