Μαραγκουδάκη, Ε., & Σούντρης, Δ. (2017). Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. Τομέας Επικοινωνιών, Ηλεκτρονικής και Συστημάτων Πληροφορικής.
Παραπομπή Chicago StyleΜαραγκουδάκη, Ελένη, and Δημήτριος Σούντρης. Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. Τομέας Επικοινωνιών, Ηλεκτρονικής και Συστημάτων Πληροφορικής, 2017.
Παραπομπή MLAΜαραγκουδάκη, Ελένη, and Δημήτριος Σούντρης. Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα. Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. Τομέας Επικοινωνιών, Ηλεκτρονικής και Συστημάτων Πληροφορικής, 2017.