Κύριοι συγγραφείς:	Νόλτσης, Μιχαήλ Α., Noltsis, Michail A.
Άλλοι συγγραφείς:	N/A
Μορφή:	bachelorThesis
Έκδοση:	N/A 1970
Θέματα:	Τρανζίστορ Φαινόμενο γήρανσης Αξιοπιστία κυκλωμάτων Μοντέλο διάχυσης υδρογόνου Ατομιστικό μοντέλο Bias Temperature Instability (BTI) Gate stack defects Circuit simulations Static Random Access Memory (SRAM) Functional yield Defects Per Million (DPM) Mean Time to Failure (MTTF) Failures In Time rate (FIT rate)
Διαθέσιμο Online:	http://dspace.lib.ntua.gr/handle/123456789/39905