Εντοπισμός ατελειών σε επίπεδη πλάκα ομογενούς και σύνθετου υλικού με χρήση νευρωνικών δικτύων και μεθόδου πεπερασμένων στοιχείων.
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | bachelorThesis |
| Έκδοση: |
N/A
1970
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/123456789/2628 |