Electrically based microstructural characterization II : symposium held December 1-4, 1997 Boston, Massachusetts, U.S.A. /
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | , , |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Warrendale :
Materials Research Society,
1998
|
| Σειρά: | Materials Research Society symposium proceedings ; ;
500 |
| Θέματα: |