Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Semiconductor characterization...
Τεκμήρια
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Semiconductor characterization : present status and future needs /
Άλλοι συγγραφείς:
Bullis, W. M.
,
Seiler, D. G.
,
Diebold, A. C.
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
Woodbury, NY. :
American Institute of Physics,
c1996
Θέματα:
Semiconductors
>
Characterization
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Semiconductor material and device characterization /
ανά: Schroder, Dieter K.
Έκδοση: (2006)
Optical characterization of semiconductors /
Έκδοση: (1992)
Optical characterization of semiconductors : : infrared, raman, and photoluminescence spectroscopy /
ανά: Perkowitz, Sidney
Έκδοση: (1993)
Semiconductors /
ανά: Wolf, Helmut F.
Έκδοση: (1971)
Semiconductors
ανά: Smith, R. A. 1909-
Έκδοση: (1978)
×
Φορτώνει......