Integrated circuit defect-sensitivity : : theory and computational models /

Κύριος συγγραφέας: Pineda de Gyvez, Jose.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1993
Σειρά:The Kluwer internatioanl series in engineering and computer science ; ; SECS 208.
Θέματα: