Μετάβαση στο περιεχόμενο
  • Γλώσσα
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
Σύνθετη
  • Integrated circuit defect-sens...
  • Παρόμοια τεκμήρια
  • Εμφάνιση παραπομπής
  • Αποστολή με SMS
  • Αποστολή με email
  • Αποθήκευση
    • Αποθήκευση σε RefWorks
    • Αποθήκευση σε EndNoteWeb
    • Αποθήκευση σε EndNote
Εξώφυλλο

Integrated circuit defect-sensitivity : : theory and computational models /

Κύριος συγγραφέας: Pineda de Gyvez, Jose.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1993
Σειρά:The Kluwer internatioanl series in engineering and computer science ; ; SECS 208.
Θέματα:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing
Integrated circuits > Very large scale integration > Defects > Mathematical models
Computer-aided design
  • Τεκμήρια
  • Περιγραφή
  • Παρόμοια τεκμήρια
  • Λεπτομερής προβολή

Παρόμοια τεκμήρια

  • VLSI design techniques for analog and digital circuits/
    ανά: Geiger, Randall L.
    Έκδοση: (1990)
  • Very large scale integration (VLSI) : fundamentals and applications /
    Έκδοση: (1980)
  • Large scale integration/
    Έκδοση: (1976)
  • Modelling and simulation of high speed VLSI intercomects /
    Έκδοση: (1994)
  • Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and signal processing/
    Έκδοση: (1994)

Επιλογές αναζήτησης

  • Ιστορικό αναζητήσεων
  • Σύνθετη αναζήτηση

Βρείτε περισσότερα

  • Περιήγηση στον κατάλογο
  • Περιήγηση αλφαβητικά

Χρειάζεστε βοήθεια;

  • Συμβουλές αναζήτησης
  • Ερώτηση σε βιβλιοθηκονόμο
Φορτώνει......
Cannot write session to /tmp/vufind_sessions/sess_0nrc8n1ds25diec2tiuht089q7