Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Materials science in microelec...
Τεκμήρια
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Materials science in microelectronics/ The effects of structure on properties in thin films.
Κύριος συγγραφέας:
Machlin, E. S.
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
New York :
Giro Press,
c1998
Θέματα:
Materials science
Microelectronics
Thin films
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Materials science in microelectronics : : the relationships between thin film processing and structure /
ανά: Machlin, E. S.
Έκδοση: (1995)
Mechanical behaviour of materials and structures in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anahiem, California, U.S.A. /
Έκδοση: (1991)
The Materials science of thin films
ανά: Ohring, Milton, 1936-
Έκδοση: (1992)
Microelectronics /
ανά: Ovechkin, Yu
Έκδοση: (1986)
The world of microelectronics /
ανά: Stambler, Irwin.
Έκδοση: (1969)
×
Φορτώνει......