Μετάβαση στο περιεχόμενο
Toggle navigation
Γλώσσα
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Materials analysis by ion chan...
Τεκμήρια
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Materials analysis by ion channeling Submicron crystallography.
Κύριος συγγραφέας:
Feldman, Leonard C.
Άλλοι συγγραφείς:
Mayer, James W.
,
Picraux, S. T.
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
New York :
Academic Pr., Inc.,
1982
Θέματα:
Microphysical Channeling
Solids
>
Surfaces
Crystals
>
Defects
Ion Beams
Crystallography
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Crystallography and crystal defects /
ανά: Kelly, A.
Έκδοση: (2000)
Handbook of modern ion beam materials analysis/
Έκδοση: (1995)
Ion properties /
ανά: Marcus, Yizhak
Έκδοση: (1997)
Ion beam handbook for material analysis /
Έκδοση: (1977)
Introduction to electron and ion optics/
ανά: Dahl, Poul.
Έκδοση: (1973)
×
Φορτώνει......