Παραπομπή APA

Κουπουσουάμι, Β. Μ., & N/A. (1970). Contact edge roughness in euv lithography: Metrology and process evaluation. N/A.

Παραπομπή Chicago Style

Κουπουσουάμι, Βιζαγιακουμάρ Μουρουγκεσάν, and N/A. Contact Edge Roughness in Euv Lithography: Metrology and Process Evaluation. N/A, 1970.

Παραπομπή MLA

Κουπουσουάμι, Βιζαγιακουμάρ Μουρουγκεσάν, and N/A. Contact Edge Roughness in Euv Lithography: Metrology and Process Evaluation. N/A, 1970.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.